波譜-能譜復合型X射線熒光光譜儀集波譜、能譜、微X射線分析于身，集成了波譜和能譜的優點，擴展了X射線熒光光譜儀的分析領域，搭建了從厘米總體分析到毫米分布分析的橋梁。

2017年3月5~9日，第68屆匹茲堡際實驗室儀器展覽會在美芝加哥展覽中心舉行。

地調局實驗測試中心、北京鋼研納克檢測技術有限公司、地調局南京地調中心等共同自主研發的 CNX-808WE 波譜-能譜復合型X射線熒光光譜儀驚艷亮相，受到眾多專家學者的關注。

該儀器集波譜、能譜、微X射線分析于身，集成了波譜和能譜的優點，擴展了X射線熒光光譜儀的分析領域，搭建了從厘米總體分析到毫米分布分析的橋梁。許多參加展會的客商，對CNX-808WE 波譜-能譜復合型X射線熒光光譜儀表示了大的興趣，并現場進行了詳細咨詢。

通過這次參展，不僅了解到了儀器行業的新行情，開拓了際視野，為今后的儀器研發工作帶來了新的理念，更有助于該項成果的市場化。

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